靈動微MCU測試過程中確保頻率校準方法

靈動微32位MCU產品在市場上受到各行業的歡迎,成立至今為不同行業領域提供上百余種的MCU產品和應用解決方案.提供不同性能的MCU產品,針對不同領域制定不同的產品,如基于ARM 內核M0及內核M3 的MCU產品，包括：通用高性能市場的MM32F系列，具有超低功耗及安全應用的MM32L系列，擁有多種無線連接功能的MM32W系列，以及電機及電源專用的MM32SPIN系列，擁有OTP型的MM32P系列等,并可按照客戶要求定制MCU產品.下面靈動微提供MCU在測試中如何確保頻率準確無誤的方法.
 
測試系統硬件由運行一組指令(測試程序）的計算機控制，在測試時提供合適的電壓、電流、時序和功能狀態給DUT并監測DUT的響應，對比每次測試的結果和預先設定的界限，做出合格(PASS)或不合格（FAIL)的判斷。本篇文章的目的在于提供一種MCU的測試方法，使得在MCU的測試過程中確保頻率校準無誤，MCU的功能全部正常。為此提供了一種MCU的測試方法，包含以下步驟：
 
A.根據MCU的測試原理，做好測試前準備，包含：編輯測試程序；所述測試程序中窮舉所有的功能，生成測試矢量；
 
B.執行測試矢量，對MCU芯片的各個管腳進行開短路測試；
 
C.對通過所述開短路測試的MCU芯片，如果沒有燒寫過頻率，則進入內置RC振蕩(IRC)測試模式，進行頻率校準，執行測試矢量之后，用TMU測試測量頻率輸出端（P12)的頻率，根據所述測得的頻率算出校驗(MM)值；所述測試矢量中包含所述MM值；
 
D.將電源電壓（VDD )、高壓引腳電壓（VPP )和輸入高電壓（VIH)的電壓調整到5伏，將根據所述頻率輸出端測得的頻率算出的MM值代入測試矢量，執行所述測試矢量之后，測量所述頻率輸出端的頻 率；如果測得的頻率不在預設的門限內，則判定所述MCU為不合格。
 
該篇文章實施方式相對于現有技術而言，對通過開短路測試的MCU，進入IRC測試模式，進行頻率校準，執行測試矢量之后，用TMU測試測量頻率輸出端P12的頻率，根據測得的頻率算出麗值；接著將VDD、VPP和VIH的電壓調整到5伏，將根據頻率輸出端測得的頻率算出的MM值代入測試矢量，執行測試矢量之后，測量頻率輸出端的頻率；并在測得的頻率不在預設的門限內時，判定MCU為不合格。通過IRC頻率校驗和燒寫，對MCU的輸出頻率進行微調，從而確保頻率校準無誤，MCU的功能全部正常。

本文關鍵詞： 靈動微

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